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    Probe Card Manual Tester SDP-200C

    개요

    • - Probe Card의 제조 과정에서 Probe Pin과 Main PCB와의
      연결 상태를 확인 하는 Manual 검사 장비
    • - Probe Card의 어셈블리 이후 또는 출하 전에 Probe Pin의
      연결 상태를 확인하는 공정 장비로 활용

    SPEC

    구분 SPEC
    PC 사양 - CPU : 팬티엄
    - OS : Window7 이상
    - Monitor : 17” 이상
    - Monitor : 17” 이상
    - RAM : 2G 이상
    장비 크기 500mm x 1000mm x 550mm (PC제외)
    장비 무게 30kg
    전원 AC220V (60hz)
    소비전류 300mA 이하

    특징

    • - 지원 Probe Card

        · Memory / Non Memory용 다양한 Probe Card지원
        (TS6700, ST6730, T6373, U-Flex, T2000 등)

    • - 검사 시간

        · 45min @2000pin/15um 핀 간격 기준

    • - 구성 요소

        · 4축 Manual State(X,Y,Z,θ), Manual Positioner, PC,
         검사프로그램(VC++), Mother Board

    • - 검사 기능

        · 45min @2000pin/15um 핀 간격 기준

    • - 주요 특징

        · 사용자 편의의 화면 구성

        · Probe Card 검사용 레퍼런스 파일 생성 용이

    Probe Card Manual Tester SDP-200C

    개요

    • - Probe Card의 제조 과정에서 Probe Pin과 Main PCB와의
      연결 상태를 확인 하는 Manual 검사 장비
    • - Probe Card의 어셈블리 이후 또는 출하 전에 Probe Pin의
      연결 상태를 확인하는 공정 장비로 활용

    SPEC

    구분 SPEC
    PC 사양 - CPU : 팬티엄
    - OS : Window7 이상
    - Monitor : 17” 이상
    - Monitor : 17” 이상
    - RAM : 2G 이상
    장비 크기 500mm x 1000mm x 550mm (PC제외)
    장비 무게 30kg
    전원 AC220V (60hz)
    소비전류 300mA 이하

    특징

    • - 지원 Probe Card

        · Memory / Non Memory용 다양한 Probe Card지원
        (TS6700, ST6730, T6373, U-Flex, T2000 등)

    • - 검사 시간

        · 45min @2000pin/15um 핀 간격 기준

    • - 구성 요소

        · 4축 Manual State(X,Y,Z,θ), Manual Positioner, PC,
         검사프로그램(VC++), Mother Board

    • - 검사 기능

        · 45min @2000pin/15um 핀 간격 기준

    • - 주요 특징

        · 사용자 편의의 화면 구성

        · Probe Card 검사용 레퍼런스 파일 생성 용이

    Probe Card Manual Tester SDP-200C

    개요

    • - Probe Card의 제조 과정에서 Probe Pin과 Main PCB와의
      연결 상태를 확인 하는 Manual 검사 장비
    • - Probe Card의 어셈블리 이후 또는 출하 전에 Probe Pin의
      연결 상태를 확인하는 공정 장비로 활용

    SPEC

    구분 SPEC
    PC 사양 - CPU : 팬티엄
    - OS : Window7 이상
    - Monitor : 17” 이상
    - Monitor : 17” 이상
    - RAM : 2G 이상
    장비 크기 500mm x 1000mm x 550mm (PC제외)
    장비 무게 30kg
    전원 AC220V (60hz)
    소비전류 300mA 이하

    특징

    • - 지원 Probe Card

        · Memory / Non Memory용 다양한 Probe Card지원
        (TS6700, ST6730, T6373, U-Flex, T2000 등)

    • - 검사 시간

        · 45min @2000pin/15um 핀 간격 기준

    • - 구성 요소

        · 4축 Manual State(X,Y,Z,θ), Manual Positioner, PC,
         검사프로그램(VC++), Mother Board

    • - 검사 기능

        · 45min @2000pin/15um 핀 간격 기준

    • - 주요 특징

        · 사용자 편의의 화면 구성

        · Probe Card 검사용 레퍼런스 파일 생성 용이